北師大UV-B雙通道紫外輻照計(jì)采用SMT貼片技術(shù)，選用精度好低功耗數(shù)字芯片，儀器外殼為流線型設(shè)計(jì)，探測器經(jīng)過嚴(yán)格的光譜及角度特性校正，性能好，適用性強(qiáng)。適用于光化學(xué)、高分子材料老化、紫外光源、以及大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測量工作。

產(chǎn)品概述

    北師大UV-B雙通道紫外輻照計(jì)采用SMT貼片技術(shù)，選用精度好低功耗數(shù)字芯片，儀器外殼為流線型設(shè)計(jì)，探測器經(jīng)過嚴(yán)格的光譜及角度特性校正，性能好，適用性強(qiáng)。適用于光化學(xué)、高分子材料老化、紫外光源、以及大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測量工作。

產(chǎn)品特點(diǎn)

光譜及角度特性經(jīng)嚴(yán)格校正

數(shù)字液晶顯示，帶背光

手動/自動量程切換

數(shù)字輸出接口（USB,冗余供電）

低電量提醒

自動超時(shí)關(guān)機(jī)

有數(shù)字保持

輕觸按鍵操作，蜂鳴提示

產(chǎn)品技術(shù)參數(shù)

波長范圍λ1，峰值波長λp （230～275）nm，λP＝254nm 用戶二選一

波長范圍λ2，峰值波長λp （275～330）nm，λP＝297nm

輻照度測量范圍 (0.1～199.9×103) μW/cm2

紫外帶外區(qū)雜光 UV254<0.1%，UV297<0.05%

相對示值誤差 ±8％（相對于NIM標(biāo)準(zhǔn)）

角度響應(yīng)特性 ±5%   （α≤10°）

線性誤差 ±1%

換檔誤差 ±1%

短期不穩(wěn)定性 ±1%（開機(jī)30min后）

疲勞特性 衰減量<2%

零值誤差 滿量程的±1%

北師大UV-B雙通道紫外輻照計(jì)響應(yīng)時(shí)間 <1S

使用環(huán)境 溫度(0~40)℃；濕度＜85％RH

尺寸和重量 160mm×78mm×43mm；0.2kg

電源 6F22型9V積層電池（非充電電池）

整機(jī)功耗 ＜0.1VA